助力矽光子與CPO量產 均英精密發表GTK-OSI1全自動FAU全系列被動光學元件檢測機

均英精密發表 GTK-OSI1 全自動檢測機,應對矽光子與共同封裝光學趨勢。本機整合 AI 與高精度自動化,以微米級精度高速檢測光纖陣列、MT 插芯等被動元件,協助建立標準化量產品質管理。